纳米材料的常用检测手段（SEM,TEM,XRD）

来源：广州宏武材料科技有限公司发布时间：2017-11-17浏览量：次

纳米材料的常用检测手段：

1、扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)

SEM用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。

SEM反映的是样品表面结构。

2、透射电子显微镜TEM(Transmission Electron Microscope)
组成：电子光学系统、电源和控制系统和真空系统组成。
电镜对真空要求较高，需机械泵和油扩散泵两级串联才能得到保证。

TEM可以获得高倍放大倍数的电子图像，也可以得到电子衍射花样，常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子形貌、分散情况及测量评估其粒径。

TEM常用于纳米复合材料微观结构表征。

TEM和SEM都是看物质结构的，TEM可以看到内部结构，SEM只能看到表面的。

3、X射线衍射 XRD（X-ray diffraction）
XRD测的是晶体结构，是定性用的，就是说确定这种物质是什么。也就是说，xrd可以测试化学键，知道化学键也就知道了元素组成。
XRD对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，可以获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，如物相分析，取向分析，点阵参数测定，缺陷以及相变的分析等。

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。

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