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纳米材料的常用检测手段(SEM,TEM,XRD)

来源:广州宏武材料科技有限公司     发布时间:2017-11-17浏览量:

纳米材料的常用检测手段:

1、扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)

 SEM用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,即与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并被闪烁器转变为光信号,经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度,得到与电子束同步的立体扫描图像。

SEM反映的是样品表面结构。


2、透射电子显微镜TEM(Transmission Electron Microscope)
组成:电子光学系统、电源和控制系统和真空系统组成。
电镜对真空要求较高,需机械泵和油扩散泵两级串联才能得到保证。

TEM可以获得高倍放大倍数的电子图像,也可以得到电子衍射花样,常用于研究纳米材料的结晶情况,观察纳米粒子形貌、分散情况及测量评估其粒径。

TEM常用于纳米复合材料微观结构表征。


TEM和SEM都是看物质结构的,TEM可以看到内部结构,SEM只能看到表面的。

3、X射线衍射 XRD(X-ray diffraction)
XRD测的是晶体结构,是定性用的,就是说确定这种物质是什么。也就是说,xrd可以测试化学键,知道化学键也就知道了元素组成。
XRD对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,可以获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息,如物相分析,取向分析,点阵参数测定,缺陷以及相变的分析等。

XRD可以做定性,定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。


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