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做纳米粒子透射电镜(TEM)时样品的制备

来源:广州宏武材料科技有限公司     发布时间:2021-06-10浏览量:

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)

透射电子显微镜利用穿透样品的电子束成像,这就要求被观察的样品对入射电子束是“透明”的。

透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。

对于粉体样品,可以采用超声波分散的方法制备样品.
对于液体样品货分散样品可以直接滴加在铜网。。

纳米硅粉 透射电镜TEM

图示 硅纳米粒子 透射电镜TEM

在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。

而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。


阅读链接:

扫描电镜纳米粉体样品的制备方法


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