来源:广州宏武材料科技有限公司 发布时间:2021-06-10浏览量:次
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)
图示 硅纳米粒子 透射电镜TEM
在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。
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