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实际应用中，大部分的纳米粒子都被做相应的表面处理或包覆。
壳体内壁包覆层太薄或太厚都会影响器件的正常工作，包覆层的厚度和密度决定了元件的性能。
而包覆层的厚度和密度均可通过精确测量其尺寸和质量来获得。
那怎样测量纳米粒子中包覆层的厚度？
用XRD一般不行，用成分含量跟粒径换算很不准确。
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