纳米材料的表征方法-纳米粉的成分分析

来源：广州宏武材料科技有限公司 宏武纳米    发布时间：2018-01-08浏览量：次

      表征与测试技术是科学鉴别纳米材料、认识其多样化结构、评价其特殊性能的根本途径。纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。纳米粉体的成分表征通常有以下几种方法：

1、原子吸收光谱AAS

根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量。
适合对纳米材料中痕量金属杂质进行定量测定，检测限低。
测量准确度很高。
选则性好，不需要进行分离检测。
分析元素范围广。
难熔性元素，稀土元素和非金属元素，不能同时进行多元素分析。

2、电感耦合等离子体原子发射光谱ICP
ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。
可进行多元素同时分析。
很低的检测限。
稳定性很好，精密度很高，定量分析效果好。
对非金属元素的检测灵敏度低。

3、电感耦合等离子体质谱ICP-MS
ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法。
检出限低。
分析速度快。
谱图干扰少，能进行同位素分析。

4、X-射线荧光光谱XFS
这是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点。
具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。
分析灵敏度高。

5、电子探针分析EPMA
根据X-射线的波长和强度进行分析的方法称为电子探针分析法。
分析准确度高。
分析灵敏度高。
样品的无损性，多元素同时检测性。
可进行选区分析。
电子探针分析对轻元素很不利。

6、X射线光电子能谱技术XPS
XPS是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。
主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。
元素的定性分析和定量分析。
固体表面分析。
在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点。