纳米材料的表征方法-纳米粉的结构分析

来源：广州宏武材料科技有限公司宏武纳米发布时间：2018-01-08浏览量：次

表征与测试技术是科学鉴别纳米材料、认识其多样化结构、评价其特殊性能的根本途径。纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。

纳米材料的物相结构和晶体结构对材料的性能有着重要的作用，目前，纳米粉体的结构分析方法常用的有以下几种：
1、X射线衍射分析
XRD 即X-ray diffraction 的缩写，是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
测定结晶情况，晶相，晶格常数，晶体结构及成键状态等。
对非晶样品不能分析。
主要适用于无机物，通常要求粉体样品的颗粒度大小在0.1-10um的范围。

2、激光拉曼分析
激光光源的拉曼光谱法。英文Laser Raman Spectrometry。
分析快速、简单、可重复、且更重要的是无损伤的定性定量分析，它无需样品准备，样品可直接通过光纤探头或者通过玻璃、石英、和光纤测量。拉曼光谱和红外光谱一样，能同时对样品进行定性定量分析，两者相互补充。
主要用于表面和薄膜表征
应用于晶相结构，颗粒大小，薄膜厚度，细微结构分析等。

3、电子衍射分析
电子束衍射的角度小，测量精度差，测量晶体结构不如XRD.
电子束很细，适合做微区分析
主要用于确定物相以及它们与基体的取向关系等。

电子衍射强度大，所需曝光时间短，可以迅速摄取衍射花样。

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